Vision Engineering logo
Электронная почта:
Пароль:

Высокоточный 3-осевой измерительный микроскоп Hawk 200

Hawk 200 сочетает превосходное качество оптического изображения и прецизионный измерительный столик, обеспечивая точное измерение компонентов по 3 осям, включая изделия из черного или прозрачного пластика ...

0 Обзор Подробности QC-200 Характеристики

Технический

Обратитесь в региональное представительство компании Vision Engineering для более подробного обсуждения практических требований.

Hawk 200
Опции увеличения
x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000
Опции подсветки поверхности
6-точечный кольцевой осветитель 150Вт
Эпископическая (через объектив) подсветка 100Вт
Нижняя подсветка
Нижняя подсветка 100Вт
Опции обработки данных
QC-200*
QC-300
QC-5000
* в стандартной комплектации

Столик для прецизионных измерений в различной конфигурации
Измерительный столик
150 мм x 150 мм
Измерительный столик
200 мм x 150 мм
Диапазон измерений
X
Y
(грубое смещение) Z
(точное смещение) Z

150 мм
150 мм
230 мм
230 мм
Диапазон измерений
X
Y
(грубое смещение) Z
(точное смещение) Z

200 мм
150 мм
230 мм
230 мм
Максимальная нагрузка
стеклянной пластины
15 кг
Максимальная нагрузка
стеклянной пластины
20 кг
Разрешение датчика
X
Y
Z


0.001 мм
0.001 мм
0.0005 мм
Разрешение датчика
X
Y
Z


0.0005 мм
0.0005 мм
0.0005 мм
Повторяемость измерений
X
Y
Z


0.002 мм
0.002 мм
0.008 мм
Повторяемость измерений
X
Y
Z


0.002 мм
0.002 мм
0.008 мм
Погрешность измерений
U952D = 4+(5.5L/1000)µm*
Погрешность измерений
U952D = 2+(4.5L/1000)µm*

Измерительный столик большой емкости
Измерительный столик
300 мм x 225 мм
Измерительный столик
400 мм x 300 мм
Диапазон измерений
X
Y
(грубое смещение) Z
(точное смещение) Z

300 мм
225 мм
90 мм
50 мм
Диапазон измерений
X
Y
(грубое смещение) Z
(точное смещение) Z

400 мм
300 мм
90 мм
50 мм
Максимальная нагрузка
стеклянной пластины
25 кг
Максимальная нагрузка
стеклянной пластины
25 кг
Разрешение датчика
X
Y
Z


0.001 мм
0.001 мм
0.001 мм
Разрешение датчика
X
Y
Z


0.001 мм
0.001 мм
0.001 мм
Повторяемость измерений
X
Y
Z


0.010 мм
0.010 мм
0.010 мм
Повторяемость измерений
X
Y
Z


0.010 мм
0.010 мм
0.010 мм
Погрешность измерений
U952D = 15+(6.5L/1000)µm*
Погрешность измерений
U952D = 15+(8.5L/1000)µm*
* где L = измеренная длина в мм (увеличение x200, температура 20°C, применение хрома для нанесения сетки, с точками пересечения на стандартной измерительной плоскости)





Сопутствующие изделия:


Kestrel 200
Производственные инструментальные 2-осевые измерительные микроскопы ...
  • Диапазон измерения 150 x 100 мм
Hawk 300
Гибкие в применении высокоточные микроскопы для оптических / видеоизмерений ...
  • Диапазон измерения до 400 x 300 мм